尼克斯鐵基膜厚儀QNix 4200

• 更新時間：2017-08-23
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尼克斯鐵基膜厚儀QNix 4200
QNix®4200/這款干膜測厚儀專為各種應用而設計。盡管它具有堅固的設計，仍然應當注意正確操作，以確保測量正確。不要跌落儀器，并隔絕污垢、灰塵、濕氣、化學品和侵蝕性蒸氣。使用后，請存放在儀器保護盒中。與所有的精密儀器一樣，溫度變化過大會影響測量結果。請避免太陽直接照射和溫度驟變。

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尼克斯鐵基膜厚儀QNix 4200

QNix®4200一般信息  :
QNix®4200/這款干膜測厚儀專為各種應用而設計。盡管它具有堅固的設計，仍然應當注意正確操作，以確保測量正確。不要跌落儀器，并隔絕污垢、灰塵、濕氣、化學品和侵蝕性蒸氣。使用后，請存放在儀器保護盒中。與所有的精密儀器一樣，溫度變化過大會影響測量結果。請避免太陽直接照射和溫度驟變。  
由于其物理測量原理，測量可能受到強電磁場的影響。請遠離變壓器、高壓線路或排放源等。不要在磁化零件上進行測量。磁場可能影響Fe測量。強電磁輻射可能影響NFe測量。儀器外殼可耐大多數溶劑。使用柔軟的濕布清潔外殼。  只有保持探頭干凈才能得到正確的結果。請定期檢查探頭頂端，清除紅寶石上的任何灰塵和油漆。如果儀器長時間不使用，請取出電池，以防止電池泄漏，導致儀器損壞。請勿嘗試自行修理發(fā)生故障的儀器。我們的客戶服務工作人員將非常樂意為您提供幫助。

簡單*的測量 - *簡單的測量。
使用QNix®4200/4500產品線，即使在日常使用過程中，鋼鐵，鐵（Fe）和非鐵（NFe）金屬也能夠快速準確地測量。 簡單地放置量規(guī)將開始測量過程，并且器件在測量期間識別是否選擇了正確的襯底。 如果需要，儀表會自動切換到相應的載體材料進行后續(xù)測量; 無校準，對于黑色金屬和0 - 3000μm的整個測量范圍為0 - 5000μm，用于有色金屬測量。

尼克斯鐵基膜厚儀QNix 4200

使用：

1.開機： 裝入電池后按紅色按鍵或將儀器探頭垂直接觸被測物體表面并壓實，儀器將自動開機。（使用時務必要使探頭垂直接觸被測物表面并壓實，禁止接觸狀態(tài)下 橫向滑動探頭，以免劃傷探頭前端紅寶石。每次測量后將儀器拿起，離開被測物 10cm 以上，再進行下次測量。）
2.設置： 開機后按紅色按鍵進入菜單，QNix4500 為 4 個選項，QNix4200 為 2 個選 項，
“Fe”為磁性金屬基體模式， “NFe”為非磁性金屬基體模式（僅 QNix4500）， “Fe/NFe”為自動識別基體模式（僅 QNix4500）， “取平均值”為儀器自動顯示 zui后三次讀數的平均值（包括本次測量）。按紅鍵進入菜單后，繼續(xù)按紅鍵進行選擇，將光標在選項上停留 2 秒后，進 入所選項目。如在“Fe”選項上停留 2 秒后，儀器顯示Fe 測量模式，這時儀器進入 Fe（磁性金屬基體）模式下工作。QNix®4500 也可選擇 NFe（非 磁性金屬基體）、Fe/NFe（磁性非磁性基體自動識別）模式下工作。
3、進入“取平均值”選項后，儀器顯示取平均值，在“開”選項上停留 2 秒后，取平均值開啟，測量時顯示數據為zui后三次讀數的平均值（包括本次測量），測量時在屏幕右上角出現“— X ”符號時表示取平均值開啟，如不需要請關閉（在取平均值選項里選擇“關”）即可。